CIS芯片坏点-ic芯片损坏原因

由于图像传感器芯片Pixel阵列存在工艺偏差及缺陷，因此会造成图像上部分像素显示错误，这些有缺陷的Pixel点即为图像坏点(Bad pixel)。

对于不同工艺、不同厂家，尤其对于一些低成本、消费类的sensor来说，坏点数会在长时间、高温环境下变得越来越多，严重影响到了sensor产品的使用效果、使用寿命。

引起坏点的原因包括Foundry工艺、长时间高温引起管子老化等。

坏点分类：

静态坏点：sensor制造产生的坏点，不随时间、增益等改变。

动态坏点：因增益、温度变化而引起的坏点，可恢复正常。

静态坏点矫正：

一般在传感器或者模组产线上进行标定，将坏点位置信息写入OTP (One Time Programmable)，在客户端读出静态坏点丢弃或在芯片内直接插值矫正。

动态坏点矫正：

相比静态坏点，动态坏点的检测及修复重要很多，算法也多种多样，可根据产品具体使用场景(车载、安防等)定制算法矫正。

算法效果：

坏点消除前：

CIS芯片坏点-ic芯片损坏原因

坏点消除后 CIS芯片坏点-ic芯片损坏原因来源：芯片全栈工程师

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